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1、实验四 中规模集成电路功能测试及应用 一、实验目的 1. 验证中规模集成芯片74LS139逻辑功能掌握使用方法。 2.实现芯片功能扩展。 二、实验器件与设备仪器 1双2:4线译码器74LS139 2片 26反相器74LS04 1片 3. 数字信号显示仪 1台 4数字万用表UT56 1台 5. TDS4数字系统综合实验平台 1台,74LS139引脚图,1.验证译码器的逻辑功能 （1）静态测试方法测试验证74LS139 中一个2:4线译码器的逻辑功能。 验证步骤： G、B、A端信号的接实验台逻辑电平开关， 4个译码输出引脚Y0Y3接逻辑电平指示灯。 G、B、A改变引脚、产生8种组合，观测指示灯的显
2、示状态， 自拟表格记录测试结果。 对照74LS139 逻辑真值表，验证芯片74LS139功能 。,三、实验内容,（2）动态测试验证74LS139 中一个2:4线译码器的逻辑功能 控制信号和地址信号均由编辑数字波形发生器编辑产生8种不同的组合(选择频率为50KHz)，数字逻辑信号仪测出输出和地址控制信号，记录分析其时序图。 从实验台提供的固定频率时钟源中选中合适的输入信号作为输入信号(控制信号和地址信号)，用实验室提供的双通道示波器进行动态测试，记录分析其时序图。 提醒： 思考怎样合理选择输入信号频率，测试波形更清晰？ 思考怎样利用仅有两个通道示波器测试全部的输入输出波形？,2.逻辑部件的扩展
3、采用本实验所给芯片将74LS139双2:4线译码器器扩展为3:8线译码器。 画出扩展3:8线译码器逻辑图，连接组装逻辑电路。 测试电路功能。 测试方法提示： 方法一，静态测试：地址控制信号可采用用逻辑电平（即手控），输出用逻辑电平指示灯显示，记录分析测试结果。 方法二，动态测试：地址控制信号可由编辑数字波形发生器编辑产生8种不同的组合(选择频率为50KHz)，数字逻辑信号仪测得输出和地址控制信号，记录分析其时序图。 思考怎样用实验室提供的双通道示波器进行动态测试？ 根据测试结果，分析得出电路功能是否的正确的结论，如果电路逻辑功能不正确，查找原因并解决存在的问题。,3. 用译码器设计实现测试八通
4、道数据分配器 画出用74LS139译码器芯片设计的1 : 8线数据分配器（可参考教材p196页图7.9）。 根据1 : 8线数据分配器电路逻辑图逻路组装电路 ，用静态测试方法对电路进行测试。 仿照教材p44页表2.6表格格式，记录整理测试结果写出设计的8 :1线数据分配器功能表。 根据测试所得 1 : 8线数据分配器功能表，判断设计电路功能是否的正确的结论，如果电路逻辑功能不正确，查找原因并解决存在的问题。,四、实验预习要求 1.复习加译码器器的逻辑功能。 2.利用本实验提供的芯片74LS139将双2:4线译码器扩展为3:8线译码器，画出逻辑图，并参照实验内容1的验证测试方法，设计测试电路方法和步骤。 3.试用本实验提供的芯片译码器74LS139设计的1 : 8线数据分配器（可参考教材p196页图7.9）。在实验报告中画出逻辑电路图，并设计测试方法和步骤。,五、问题回答 2. 为什么只有二进制译码器能在计算机存储器和输入/输出系统中作地址译码器，而显示译码器等则不选用？ 3.中规模集成电路中输入使能端的作用？ 4.用测试方法判断芯片功能好坏具体测试方法有哪两种？静态测试方法和动态测试侧重有什么不同？相互可否代替？ 5.数字电路实验难免出现问题，你认为产生问题的主要原因有哪几种？你怎样避免此类问题的发生。 6.记录实验中出现的问题，分析原因，写出解决方法。,
