【2017年整理】透射电子学中的一些术语的翻译

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1、透射电子学中的一些术语的翻译 ACF absorption correction factor 吸收校正因子A/D analog to digital (converter)模拟数字化ADF annular dark field 环形暗场 AEM analytical electron microscope/microscopy 分析电子显微镜/学AES Auger electron spectrometer/spectroscopy 俄歇电子光谱仪/学AFF aberration-free focus 无像差焦点 ALCHEMI atom location by channeling-enh

2、anced microanalysis APB anti-phase domain boundary 反相畴界 ATW atmospheric thin window BF bright field 明场 BFP back focal plane 后焦面 BSE backscattered electron 背散射电子 BSED backscattered-electron diffraction 背散射电子衍射 BZB Brillouin-zone boundary C(1,2,etc.)condenser (l, 2, etc.) lens 第 1,2. 聚光镜 CB coherent b

3、remsstrahlung CBED convergent-beam electron diffraction 会聚束电子衍射 CBIM convergent-beam imaging 会聚束成像CCD charge-coupled device 电荷耦合装置 CCF cross-correlation function 互相关函数CCM charge-collection microscopy CDF centered dark field 中心暗场像CF coherent Fennel/Foucault CFEG cold field-emission gun 冷场发射枪 CL catho

4、deluminescence 阴极发光CRT cathode-ray tube 阴极射线管CS crystallographic shear 晶体学切变 CSL coincident-site lattice DF dark field 暗场 DOS density of states 态密度 DP diffraction pattern 衍射花样 DQE detection of quantum efficiency 量子探测效率 DSTEM dedicated scanning transmission electron microscope 专业扫描透射电子显微镜DTSA desktop

5、 spectrum analyzer EBIC electron beam-induced current/conductivity EELS electron energy-loss spectrometry 电子能量损失谱EFI energy-filtered imaging 能量过滤成像 ELNES energy-loss near-edge structure 能量损失近边结构 ELP energy-loss program (Gatan) EMMA electron microscope microanalyzer EMS electron microscopy image simu

6、lation 电子显微学图像模拟EPMA electron probe microanalyzer ESCA electron spectroscopy for chemical analysis ESI electron spectroscopic imaging EXAFS extended X-ray absorption fine structure 扩展 X 射线吸收精细结构EXELFS extended energy-loss fine structure 扩展能量损失精细结构FCF fluorescence correction factor 荧光校正因子 FEG field-e

7、mission gun 场发射枪FET field-effect transistor 场效晶体管 FFT fast Fourier transform 快速傅立叶变换 FOLZ first-order Laue zone 一阶劳埃区 FSE fast secondary electron FTP file transfer protocol 文件传输协议 FWHM full width at half maximum 半极大处全宽度半峰全宽FWTM full width at tenth maximum GB grain boundary 晶界 GCS generalized cross s

8、ection GIF Gatan image filter Gantan 图像过滤GOS generaled oscillator strength HAADF high-angle annular dark field 高角环形暗场 HOLZ higher-order Laue zone 高阶劳埃区HPGe high-purity germanium 高纯 Ge HRTEM high-resolution transmission electron microscope/microscopy 高分辨透射电子显微镜/学HV high vacuum 高真空 HVEM high voltage e

9、lectron microscope/microscopy 高压电子显微镜 /学IDB inversion domain boundary 反相畴界 IEEE International Electronics and Electrical Engineering IG intrinsic Ge IVEM intermediate voltage electron microscope/microscopy 中等电压电子显微镜/学K-M Kossel-Mllenstedt LEED low-energy electron diffraction 低能电子衍射 LLS linear least-

10、squares 线性最小二乘LUT look-up table 对照表 MC minimum contrast 最小衬度 MCA multichannel analyzer 脉冲高度分析仪MDM minimum detectable mass MLS multiple least-squares MMF minimum mass fraction MSDS material safety data sheets NCEMSS National Center for Electron Microscopy simulation system NIH National Institutes of

11、Health NIST National Institute of Standards and Technology OR orientation relationship OTEDP oblique-textured electron diffraction pattern PB phase boundary 相界 P/B peak-to-background ratio 峰背比 PEELS parallel electron energy-loss spectrometer/spectroscopy 并联电子能量损失谱仪/学 PIMS Precision Ion-Milling Syste

12、m PIPS Precision Ion-Polishing System PM photomultiplier 光电倍增器 POA phase-object approximation 相位物近似 QHRTEM quantitative high-resolution transmission electron microsc.定量高分辨透射电子显微学 RB translation boundary (yes, it does!) RCP rocking-beam channeling patterns RDF radial distribution function REM reflect

13、ion electron microscope/microscopy 反射电子显微镜/学RHEED reflection high-energy electron diffraction 反射高能电子衍射RHF relativistic Hartree-Fock RHFS relativistic Hartree-Fock-Slater SAD selected-area diffraction 选区衍射SE secondary electron 二次电子 SEELS serial electron energy-loss spectrometer/spectrometry 串联电子能量损失谱

14、仪/学 SEM scanning electron microscope/microscopy 扫描电子显微镜/学 SF stacking fault 堆垛层错 SHRLI simulated high-resolution lattice images 程序的名称SIMS secondary ion mass spectrometry S/N signal-to-noise ratio 信噪比 SOLZ second-order Laue zone 二阶劳埃区 SRM standard reference material STEM scanning transmission electro

15、n microscope/microscopy 扫描透射电子显微镜/学STM scanning tunneling microscope/microscopy 扫描隧道电子显微镜/学 TB twin boundary 挛晶界 TEM transmission electron microscope/microscopy 透射电子显微镜/学TMBA too many bloody acronyms UHV ultrahigh vacuum 超高真空 UTW ultra thin window 超薄窗口V/F voltage to frequency (converter) VLM visible

16、-light microscope/microscopy WB weak beam 弱束 WBDF weak-beam dark field 弱束暗场WDS wavelength-dispersive WP whole pattern 全图 WPOA weak-phase object approximation 弱相位物近似 XANES X-ray absorption near-edge structure X 射线吸收近边结构 XEDS X-ray energy-dispersive spectrometer X 射线能量色散谱仪 XRD X-ray diffraction X 射线衍射 YBCO yttrium-barium-copper oxide 钇钡铜氧 YAG yttrium-aluminum garnet 钇铝石榴石 ZAF atomic number, absorption, fluorescence correction ZAP zone-axis pattern ZOLZ zero-order La

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